Utilidad diagnóstica de la ecografía de vaina de nervio óptico (evno), como método no invasivo para la detección de hipertension intracraneal. Estudio prospectivo de 95 mediciones comparado con monitoreo invasivo en Chile
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Resumen
Introducción: El síndrome de hipertensión endocraneal (HTEC) es una condición grave con riesgo vital, causada por un gran número de enfermedades neurológicas y sistémicas. El examen de referencia para su diagnóstico, es la medición invasiva de la presión intracraneana (PIC). Nuestra hipótesis es que la ecografía de vaina de nervio óptico es una herramienta útil como método no invasivo en la detección de HTEC, comparado con el método de referencia actual. Material y Método: Estudio de recolección prospectiva de datos secundarios anonimizados, sobre el valor de la EVNO enmascarado al valor de la PIC por drenaje ventricular externo (DVE), realizado por operador único en pacientes adultos del Hospital Puerto Montt entre 2015 y 2017. Resultados: Se incluyeron 59 pacientes con un total de 95 mediciones. Se obtuvo una sensibilidad 88%, especificidad del 92% con una valor predictivo positivo (VPP) y negativo (VPN) de 85% y 94% respectivamente. La curva de ROC nos muestra un área bajo la curva de 0,95. Discusión: Los resultados obtenidos son comparables a los reportados en la literatura, avalando ampliamente la utilidad de esta técnica no invasiva. Este constituye el primer trabajo reportado en Chile para la validación y difusión de dicha técnica ecográfica en nuestra realidad local. Conclusión: La EVNO es una técnica accesible, sensible y específica para la detección de HTEC de manera no invasiva. Su potencial es evidente más allá del neurointensivo, pero debe utilizarse como herramienta de apoyo y no reemplazar el monitoreo invasivo cuando este se encuentre indicado.
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Hipertensión intracranial, diámetro vaina de nervio óptico, ultrasonido, ecografía, sonografía,, monitoreo no invasivo de presión intracraneal